清软微视核心团队来自清华大学、中科院、上海微电子等国内顶尖院校和半导体企业。清软微视主要关注半导体前道制程的过程缺陷检测，其自主研发的无图案晶圆缺陷检测设备Omega 系列及有图案晶圆缺陷检测设备Alpha系列设备通过高效样本学习方法，解决了工业场景缺陷数据匮乏及标注困难等问题，有效推动了第三代半导体材料和芯片制造的良率提升与降本增效，目前已经在国内头部客户现场完成验证，打破了国外设备的垄断。